半導体ウエハーの断面形状寸法を非破壊で計測するための装置です。
ウエハーエッジの寸法、角度、半径を測定することだ出来ます。
超高輝度照明装置 （ＵＩＨ−１Ｃ，２Ｄ，３Ｄ）
製品 (Product)
対象物（※１）に高輝度の光をあてるとチンダル現象が発生し、表面の傷やごみ、内部の異物や気泡を目視で容易に確認することが出来ます。※１：半導体ウエハー、マスクガラス、ハードディスク、液晶パネル、レンズなど！
修理 (Repair)
故障発生時は下記内容をメールでお知らせください。１．会社名２．ご担当者名３．ご連絡先の電話番号４．異常状況 例１：電源が入らない。 例２：ランプが直ぐに切れる。修理についてお問い合わせ（E_mail）